检测项目
1. 基础热物性参数测定:导热系数,热扩散系数,体积比热容。
2. 界面材料热阻分析:导热硅脂热阻,导热垫片接触热阻,焊接层热阻。
3. 基板与电路板热性能:覆铜板面内导热系数,陶瓷基板贯穿厚度导热系数,绝缘层热阻。
4. 芯片封装体热特性:封装外壳到环境的热阻,结壳热阻,芯片附着材料热导率。
5. 散热组件效能测试:金属散热器导热性能,热管等效导热系数,均温板热扩散性能。
6. 电子胶黏剂热性能:导热胶导热系数,灌封胶热扩散系数,贴片胶热阻。
7. 半导体材料热导分析:硅片导热系数,氮化镓外延层热扩散系数,碳化硅衬底热性能。
8. 相变材料热特性:相变温度点,相变潜热,固态与液态相导热系数。
9. 各向异性材料热导测试:平面方向导热系数,厚度方向导热系数,纤维增强复合材料热导各向异性比。
10. 温度依赖性热导分析:指定温度区间内导热系数变化曲线,低温与高温极端条件热导率。
11. 老化与可靠性热测试:热循环后材料导热性能衰减,高温高湿老化后热阻变化。
12. 薄膜与涂层热导测量:金属薄膜面内热导率,绝缘涂层热障性能,纳米涂层热扩散系数。
检测范围
导热硅脂、导热垫片、导热凝胶、导热相变材料、氮化铝陶瓷基板、氧化铝陶瓷基板、覆铜铝基板、环氧玻璃布层压板、芯片封装外壳、金属引线框架、塑封料、半导体功率器件、发光二极管芯片、集成电路处理器、热管、翅片散热器、均温板、石墨导热膜、聚酰亚胺柔性基板、电子灌封胶
检测设备
1. 激光闪射法导热分析仪:用于测量材料的热扩散系数与比热容,进而计算导热系数;适用于块体、片状及涂层材料,测试温度范围宽。
2. 热流法导热系数测定仪:基于稳态热流原理,直接测量平板样品的导热系数;操作相对简便,适用于绝热材料及部分聚合物。
3. 防护热板法导热仪:采用绝对法测量绝热材料或低导热材料的导热系数;可建立一维稳态热流场,测量精度高。
4. 热阻测试仪:专门用于测量半导体器件结壳热阻、接触热阻等参数;可模拟实际工作条件进行动态测试。
5. Hot Disk热常数分析仪:采用瞬态平面热源技术,可同时测量导热系数、热扩散系数和体积比热容;对样品形状要求低,测试速度快。
6. 差示扫描量热仪:用于精确测量材料的比热容,为激光闪射法计算导热系数提供关键输入数据。
7. 热机械分析仪:可在程序控温下测量材料的尺寸变化,辅助分析材料热膨胀系数对界面热接触的影响。
8. 红外热像仪:用于非接触式测量物体表面温度分布,可直观观察散热组件的工作效能及热点位置。
9. 薄膜热导率测试系统:专为测量微米或纳米级薄膜、涂层的面内或跨面热导率而设计,通常基于3ω法或拉曼光谱法原理。
10. 高低温环境试验箱:为热导测试提供所需的恒定或可编程温度环境,用于测试材料热物性参数的温度依赖性。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。